檢測分析業者汎銓 (6830-TW) 近日獲得台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」 的發明專利，搶占矽光子檢測商機，本周在資金簇擁下，股價一度達 184 元，週五終場收在 176.5 元，周漲幅仍高達 15.36%，寫下兩個月來新高。
汎銓指出，除了台灣與日本專利外，也持續申請歐、美、韓、中專利，該專利涵蓋專門用於偵測半導體導光晶片之導光通道異常現象的裝置與工法，異常現象包括光衰、漏光和斷光偵測，能夠有效解決在矽光子積體光路 (PIC) 中常見的問題。
汎銓看好，此發明的工法能夠準確地識別導光通道中的異常現象，從而幫助改進矽光子積體光路的性能，並為未來的光電子技術提供有力支持。
